PXIE-4145 NI 源测量单元

描述

NI PXIe-4145源测量单元(SMU)详细介绍

产品概述

NI PXIe-4145是一款高性能、多通道的源测量单元（Source Measure Unit，SMU），专为需要高精度、高速度测量的应用而设计。它能够同时充当电压源和电流源，并测量电压和电流，非常适合半导体器件的特性测试、电池测试、材料科学研究等领域。

PXIE-4145 NI

产品特点

高精度测量:具有高分辨率和低噪声，能够精确测量小信号。

高速采样:高采样率支持快速动态测量，捕捉瞬态信号。

多通道同步:多通道同步测量，提高测试效率。

四象限操作:支持源和漏模式，适用于各种负载。

远程传感:每个通道集成远程（4线）传感功能，提高测量精度。

灵活编程:支持LabVIEW、MATLAB等多种编程环境，方便用户自定义测量序列。

产品参数

通道数:4

电压范围:±20V

电流范围:±1A

采样率:最高可达100kS/s

分辨率:20位

噪声:低

接口:PXI Express

产品规格

系列:NI PXIe系列

尺寸:符合PXI Express标准

工作环境:标准实验室环境

认证:CE,RoHS等

PXIE-4145 NI

系列介绍

NI PXIe系列是NI公司推出的一系列模块化仪器平台，具有高性能、高可靠性、可扩展性等特点，广泛应用于测试测量、自动化控制等领域。PXIe-4145作为该系列中的一个重要成员，为用户提供了强大的测量功能。

作用与用途

半导体器件特性测试:用于测试晶体管、二极管等半导体器件的I-V特性曲线。

电池测试:用于测试电池的容量、内阻、充放电特性等。

材料科学研究:用于测量材料的电学特性，如电阻率、介电常数等。

电源测试:用于测试电源的输出电压、电流、纹波等。

应用领域

电子制造:半导体制造、电子产品测试

汽车电子:电池测试、电机控制

航空航天:电气系统测试

科研院所:材料科学研究、物理实验

PXIE-4145 NI

总结

NI PXIe-4145是一款功能强大、灵活的源测量单元，能够满足各种高精度测量需求。其高性能、多功能、易于编程的特点，使其成为科研、工业等领域测试测量系统的理想选择。