ZMI-2002 8020-0211-1-J ZYGO双轴6UVME测量板

ZYGO ZMI-2002 8020-0211-1-J是一款高性能的双轴VME测量板,专为需要高精度、高可靠性测量的应用而设计。

型号:ZMI-2002 8020-0211-1-J

品牌:ZYGO

类型:双轴VME测量板

测量精度:纳米级

接口:VME

分类:

描述

ZYGO ZMI-2002 8020-0211-1-J双轴6UVME测量板详细介绍

产品概述

ZYGO ZMI-2002 8020-0211-1-J是一款高性能的双轴VME测量板,专为需要高精度、高可靠性测量的应用而设计。它广泛应用于光学、半导体、精密制造等领域,用于测量各种光学元件和表面的形貌、轮廓等参数。

ZMI-2002 8020-0211-1-J ZYGO

ZMI-2002 8020-0211-1-J ZYGO

产品特点

双轴设计:提供两个独立的测量轴,可同时进行双轴测量,提高测量效率。

高精度:采用先进的测量技术,具有极高的测量精度和重复性。

VME接口:符合VME总线标准,可方便地集成到各种VME系统中。

灵活配置:提供多种配置选项,可根据不同的应用需求进行定制。

强大的软件支持:配备专业的测量软件,提供友好的用户界面和丰富的分析功能。

产品参数与规格

型号:ZMI-2002 8020-0211-1-J

品牌:ZYGO

类型:双轴VME测量板

测量精度:纳米级

接口:VME

ZMI-2002 8020-0211-1-J ZYGO

ZMI-2002 8020-0211-1-J ZYGO

产品系列

ZMI-2002属于ZYGO公司ZMI系列测量板产品。ZYGO公司是光学测量领域的领导者,其产品广泛应用于科研、工业等领域。

产品作用与用途

光学元件测量:测量镜片、透镜、棱镜等光学元件的表面形貌、轮廓等参数。

半导体测量:测量晶圆、芯片等半导体器件的表面形貌。

精密制造:测量精密机械零件的表面粗糙度、轮廓等。

ZMI-2002 8020-0211-1-J ZYGO

ZMI-2002 8020-0211-1-J ZYGO

应用领域

光学制造:光学仪器、眼镜、相机镜头的生产。

半导体制造:芯片制造、封装测试。

科研:光学研究、材料科学研究。

精密制造:测量仪器制造、精密机械加工。